Kangoo.plSzukamy produktów wśród ponad 10 mln ofert sklepów internetowych

Nowoczesne podejście do wymagań współczesnej metrologii! Nowe, zaktualizowane wydanie popularnego poradnika z zakresu metrologii, w którym przedstawiono:·aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar;·podstawowe pojęcia metrologii, procedury zapewnienia jedności miar, procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych i badania aparatury pomiarowej;·zasady tworzenia schematów sprawdzań wzorców i narzędzi pomiarowych;·aspekty niepewności wyników pomiarów i procedur wyznaczania niepewności, ·wstępne opracowanie wyników kalibracji oraz procedury estymacji charakterystyk liniowych i nieliniowych, jedno- i wielowymiarowych przy różnych właściwościach błędów;·badanie metod analitycznych oraz badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania;·aspekty komputeryzacji procedur kalibracji i obsługi laboratorium;·sprawdzanie (walidację) metod badania i wzorcowania;·laboratoria akredytowane oraz zagadnienia prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodności;·przykład księgi jakości laboratorium spełniającego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005.W porównaniu do poprzedniego wydania w wielu rozdziałach wprowadzono zmiany i uzupełnienia. W rozdziale o jednostkach miar, wzorcach pomiarowych i badaniu jednolitości miar uwzględniono postęp prac nad ustanowieniem nowego (kwantowego) układu jednostek miar SI oraz kierunki prac prowadzonych nad realizacją nowych (kwantowych) etalonów. Opisano też komputerowe wspomaganie procedur wzorcowania. Dokonano aktualizacji przepisów prawnych i norm, co było szczególnie istotne przy omawianiu zasad i uwarunkowań badania biegłości laboratorium wzorcującego, które jest obecnie obwarowane nowymi przepisami i jest pod nadzorem organizacji międzynarodowych. Książka jest adresowana zarówno do studentów uniwersytetów (na wydziałach fizyki i chemii), jak i politechnik, oraz do pracowników naukowych i inżynierów zajmujących się budową aparatury pomiarowej oraz jej stosowaniem we wszystkich dziedzinach od mechaniki, elektrotechniki po chemię fizyczną i analityczną....

Nowoczesne podejście do wymagań współczesnej metrologii! Nowe, zaktualizowane wydanie popularnego poradnika z zakresu metrologii, w którym przedstawiono:?aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar;?podstawowe pojęcia metrologii, procedury zapewnienia jedności miar, procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych i badania aparatury pomiarowej;?zasady tworzenia schematów sprawdzań wzorców i narzędzi pomiarowych;?aspekty niepewności wyników pomiarów i procedur wyznaczania niepewności, ?wstępne opracowanie wyników kalibracji oraz procedury estymacji charakterystyk liniowych i nieliniowych, jedno- i wielowymiarowych przy różnych właściwościach błędów;?badanie metod analitycznych oraz badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania;?aspekty komputeryzacji procedur kalibracji i obsługi laboratorium;?sprawdzanie (walidację) metod badania i wzorcowania;?laboratoria akredytowane oraz zagadnienia prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodności;?przykład księgi jakości laboratorium spełniającego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005.W porównaniu do poprzedniego wydania w wielu rozdziałach wprowadzono zmiany i uzupełnienia. W rozdziale o jednostkach miar, wzorcach pomiarowych i badaniu jednolitości miar uwzględniono postęp prac nad ustanowieniem nowego (kwantowego) układu jednostek miar SI oraz kierunki prac prowadzonych nad realizacją nowych (kwantowych) etalonów. Opisano też komputerowe wspomaganie procedur wzorcowania. Dokonano aktualizacji przepisów prawnych i norm, co było szczególnie istotne przy omawianiu zasad i uwarunkowań badania biegłości laboratorium wzorcującego, które jest obecnie obwarowane nowymi przepisami i jest pod nadzorem organizacji międzynarodowych. Książka jest adresowana zarówno do studentów uniwersytetów (na wydziałach fizyki i chemii), jak i politechnik, oraz do pracowników naukowych i inżynierów zajmujących się budową aparatury pomiarowej oraz jej stosowaniem we wszystkich dziedzinach od mechaniki, elektrotechniki po chemię fizyczną i analityczną.

"Nowoczesne podejście do wymagań współczesnej metrologii! Nowe, zaktualizowane wydanie popularnego poradnika z zakresu metrologii, w którym przedstawiono: ·aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar, ·podstawowe pojęcia metrologii, procedury zapewnienia jedności miar, procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych i badania aparatury pomiarowej, ·zasady tworzenia schematów sprawdzań wzorców i narzędzi pomiarowych, ·aspekty niepewności wyników pomiarów i procedur wyznaczania niepewności, ·wstępne opracowanie wyników kalibracji oraz procedury estymacji charakterystyk liniowych i nieliniowych, jedno- i wielowymiarowych przy różnych właściwościach błędów, ·badanie metod analitycznych oraz badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania, ·aspekty komputeryzacji procedur kalibracji i obsługi laboratorium, ·sprawdzanie (walidację) metod badania i wzorcowania, ·laboratoria akredytowane oraz zagadnienia prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodności, ·przykład księgi jakości laboratorium spełniającego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005. W porównaniu do poprzedniego wydania w wielu rozdziałach wprowadzono zmiany i uzupełnienia. W rozdziale o jednostkach miar, wzorcach pomiarowych i badaniu jednolitości miar uwzględniono postęp prac nad ustanowieniem nowego (kwantowego) układu jednostek miar SI oraz kierunki prac prowadzonych nad realizacją nowych (kwantowych) etalonów. Opisano też komputerowe wspomaganie procedur wzorcowania. Dokonano aktualizacji przepisów prawnych i norm, co było szczególnie istotne przy omawianiu zasad i uwarunkowań badania biegłości laboratorium wzorcującego, które jest obecnie obwarowane nowymi przepisami i jest pod nadzorem organizacji międzynarodowych. Książka jest adresowana zarówno do studentów uniwersytetów (na wydziałach fizyki i chemii), jak i politechnik, oraz do pracowników naukowych i inżynierów zajmujących się budową aparatury pomiarowej oraz jej stosowaniem we wszystkich dziedzinach od mechaniki, elektrotechniki po chemię fizyczną i analityczną."

.description { padding: 11px; box-sizing: border-box; max-width: 1200px; } .description .section { padding: 15px 0; } @media (max-width: 991px) { .description .section .item-6:nth-child(1) { padding-bottom: 10px; } } @media (min-width: 992px) { .description .section { display: flex; align-items: center; } .description .item-6 { width: 50%; float: left; position: relative; min-height: 1px; } } .description *, .description *::after, .description *::before { box-sizing: border-box; } .description .item { padding-left: 15px; padding-right: 15px; } .description .item-12 { width: 100%; min-height: 1px; } .description .text-item h1, .description .text-item h2 { display: block; font-family: "Roboto", "Open Sans", sans-serif /* once Roboto font is available globally on allegro sites, this fallback is not needed anymore */; font-weight: 500; margin: 18px 0; } .description .text-item p { margin: 16px 0; word-wrap: break-word; } .description .text-item h1 { color: #444444; font-size: 24px; line-height: 24px; } .description .text-item h2 { color: #444444; font-size: 18px; line-height: 18px; } .description .text-item ol, .description .text-item ul { padding-left: 40px; margin: 16px 0; } .description .text-item { color: #444444; font-family: "Open Sans", sans-serif; font-size: 16px; line-height: 22px; width: 100%; word-wrap: break-word; } .description .image-item img { display: block; margin-left: auto; margin-right: auto; max-width: 100%; } .description .video-item .yt-container { margin-left: auto; margin-right: auto; max-width: 853px; } .description .video-item .yt-responsive-container { position: relative; padding-bottom: 56.25%; padding-top: 30px; height: 0; overflow: hidden; } .description .video-item .yt-container .yt-responsive-container iframe { position: absolute; top: 0; left: 0; width: 100%; height: 100%; } .hidden { display: none; } function showHiddenVideos() { var elements = document.getElementsByClassName('yt-container hidden'); for (var i = 0; i < elements.length; i++) { elements[i].classList.remove('hidden'); } } NARZEDZIA POMIAROWE I ELEMENTY APARATURY KONTROLNO POMIAROWEAutor:Tadeusz OrlofOpis książkiKsiążka w bardzo dobrym stanieLekko pożółkłe strony wskutek działania czasuWydanie 2Istnieje możliwość wysyłki za granicę(prosimy o wcześniejszy kontakt w celu ustalenia dokładnej ceny przesyłki)Liczba stron: 268P

.description { padding: 11px; box-sizing: border-box; max-width: 1200px; } .description .section { padding: 15px 0; } @media (max-width: 991px) { .description .section .item-6:nth-child(1) { padding-bottom: 10px; } } @media (min-width: 992px) { .description .section { display: flex; align-items: center; } .description .item-6 { width: 50%; float: left; position: relative; min-height: 1px; } } .description *, .description *::after, .description *::before { box-sizing: border-box; } .description .item { padding-left: 15px; padding-right: 15px; } .description .item-12 { width: 100%; min-height: 1px; } .description .text-item h1, .description .text-item h2 { display: block; font-family: "Roboto", "Open Sans", sans-serif /* once Roboto font is available globally on allegro sites, this fallback is not needed anymore */; font-weight: 500; margin: 18px 0; } .description .text-item p { margin: 16px 0; word-wrap: break-word; } .description .text-item h1 { color: #444444; font-size: 24px; line-height: 24px; } .description .text-item h2 { color: #444444; font-size: 18px; line-height: 18px; } .description .text-item ol, .description .text-item ul { padding-left: 40px; margin: 16px 0; } .description .text-item { color: #444444; font-family: "Open Sans", sans-serif; font-size: 16px; line-height: 22px; width: 100%; word-wrap: break-word; } .description .image-item img { display: block; margin-left: auto; margin-right: auto; max-width: 100%; } .description .video-item .yt-container { margin-left: auto; margin-right: auto; max-width: 853px; } .description .video-item .yt-responsive-container { position: relative; padding-bottom: 56.25%; padding-top: 30px; height: 0; overflow: hidden; } .description .video-item .yt-container .yt-responsive-container iframe { position: absolute; top: 0; left: 0; width: 100%; height: 100%; } .hidden { display: none; } function showHiddenVideos() { var elements = document.getElementsByClassName('yt-container hidden'); for (var i = 0; i < elements.length; i++) { elements[i].classList.remove('hidden'); } } KATALOG AUTOMATYKI I APARATURY POMIAROWEJ TOM 5AUTORpraca zbiorowaOPIS:Książki w bardzo dobrym stanieLekko pożółkłe strony wskutek działania czasuNa maila mogę wysłać spis treściKatalog zawiera czarno-białe fotografie urządzeń ich parametry, zasadę działania oraz budowęZawiera pieczęć bibliotecznąIstnieje możliwość wysłania książki za granicę (przed zakupem prosimy o kontakt w celu ustalenia dokładnej ceny przesyłki zagranicznej)Liczba stron: 440P

Nowoczesne podejście do wymagań współczesnej metrologii! Nowe, zaktualizowane wydanie popularnego poradnika z zakresu metrologii, w którym przedstawiono:·aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar;·podstawowe pojęcia metrologii, procedury zapewnienia jedności miar, procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych i badania aparatury pomiarowej;·zasady tworzenia schematów sprawdzań wzorców i narzędzi pomiarowych;·aspekty niepewności wyników pomiarów i procedur wyznaczania niepewności, ·wstępne opracowanie wyników kalibracji oraz procedury estymacji charakterystyk liniowych i nieliniowych, jedno- i wielowymiarowych przy różnych właściwościach błędów;·badanie metod analitycznych oraz badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania;·aspekty komputeryzacji procedur kalibracji i obsługi laboratorium;·sprawdzanie (walidację) metod badania i wzorcowania;·laboratoria akredytowane oraz zagadnienia prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodności;·przykład księgi jakości laboratorium spełniającego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005.W porównaniu do poprzedniego wydania w wielu rozdziałach wprowadzono zmiany i uzupełnienia. W rozdziale o jednostkach miar, wzorcach pomiarowych i badaniu jednolitości miar uwzględniono postęp prac nad ustanowieniem nowego (kwantowego) układu jednostek miar SI oraz kierunki prac prowadzonych nad realizacją nowych (kwantowych) etalonów. Opisano też komputerowe wspomaganie procedur wzorcowania. Dokonano aktualizacji przepisów prawnych i norm, co było szczególnie istotne przy omawianiu zasad i uwarunkowań badania biegłości laboratorium wzorcującego, które jest obecnie obwarowane nowymi przepisami i jest pod nadzorem organizacji międzynarodowych. Książka jest adresowana zarówno do studentów uniwersytetów (na wydziałach fizyki i chemii), jak i politechnik, oraz do pracowników naukowych i inżynierów zajmujących się budową aparatury pomiarowej oraz jej stosowaniem we wszystkich dziedzinach od mechaniki, elektrotechniki po chemię fizyczną i analityczną....

Nowoczesne podejście do wymagań współczesnej metrologii! Nowe, zaktualizowane wydanie popularnego poradnika z zakresu metrologii, w którym przedstawiono: ·aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar; ·podstawowe pojęcia metrologii, procedury zapewnienia jedności miar, procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych i badania aparatury pomiarowej; ·zasady tworzenia schematów sprawdzań wzorców i narzędzi pomiarowych; ·aspekty niepewności wyników pomiarów i procedur wyznaczania niepewności, ·wstępne opracowanie wyników kalibracji oraz procedury estymacji charakterystyk liniowych i nieliniowych, jedno- i wielowymiarowych przy różnych właściwościach błędów; ·badanie metod analitycznych oraz badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania; ·aspekty komputeryzacji procedur kalibracji i obsługi laboratorium; ·sprawdzanie (walidację) metod badania i wzorcowania; ·laboratoria akredytowane oraz zagadnienia prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodności; ·przykład księgi jakości laboratorium spełniającego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005. W porównaniu do poprzedniego wydania w wielu rozdziałach wprowadzono zmiany i uzupełnienia. W rozdziale o jednostkach miar, wzorcach pomiarowych i badaniu jednolitości miar uwzględniono postęp prac nad ustanowieniem nowego (kwantowego) układu jednostek miar SI oraz kierunki prac prowadzonych nad realizacją nowych (kwantowych) etalonów. Opisano też komputerowe wspomaganie procedur wzorcowania. Dokonano aktualizacji przepisów prawnych i norm, co było szczególnie istotne przy omawianiu zasad i uwarunkowań badania biegłości laboratorium wzorcującego, które jest obecnie obwarowane nowymi przepisami i jest pod nadzorem organizacji międzynarodowych. Książka jest adresowana zarówno do studentów uniwersytetów (na wydziałach fizyki i chemii), jak i politechnik, oraz do pracowników naukowych i inżynierów zajmujących się budową aparatury pomiarowej oraz jej stosowaniem we wszystkich dziedzinach od mechaniki, elektrotechniki po chemię fizyczną i analityczną.

Opis - Nowoczesne podejście do wymagań współczesnej metrologii! Nowe, zaktualizowane wydanie popularnego poradnika z zakresu metrologii, w którym przedstawiono:?aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar;?podstawowe pojęcia metrologii, procedury zapewnienia jedności miar, procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych i badania aparatury pomiarowej;?zasady tworzenia schematów sprawdzań wzorców i narzędzi pomiarowych;?aspekty niepewności wyników pomiarów i procedur wyznaczania niepewności, ?wstępne opracowanie wyników kalibracji oraz procedury estymacji charakterystyk liniowych i nieliniowych, jedno- i wielowymiarowych przy różnych właściwościach błędów;?badanie metod analitycznych oraz badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania;?aspekty komputeryzacji procedur kalibracji i obsługi laboratorium;?sprawdzanie (walidację) metod badania i wzorcowania;?laboratoria akredytowane oraz zagadnienia prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodności;?przykład księgi jakości laboratorium spełniającego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005.W porównaniu do poprzedniego wydania w wielu rozdziałach wprowadzono zmiany i uzupełnienia. W rozdziale o jednostkach miar, wzorcach pomiarowych i badaniu jednolitości miar uwzględniono postęp prac nad ustanowieniem nowego (kwantowego) układu jednostek miar SI oraz kierunki prac prowadzonych nad realizacją nowych (kwantowych) etalonów. Opisano też komputerowe wspomaganie procedur wzorcowania. Dokonano aktualizacji przepisów prawnych i norm, co było szczególnie istotne przy omawianiu zasad i uwarunkowań badania biegłości laboratorium wzorcującego, które jest obecnie obwarowane nowymi przepisami i jest pod nadzorem organizacji międzynarodowych. Książka jest adresowana zarówno do studentów uniwersytetów (na wydziałach fizyki i chemii), jak i politechnik, oraz do pracowników naukowych i inżynierów zajmujących się budową aparatury pomiarowej oraz jej stosowaniem we wszystkich dziedzinach od mechaniki, elektrotechniki po chemię fizyczną i analityczną. Nazwa - Wzorcowanie aparatury pomiarowej Autor - Piotrowski Janusz, Kostyrko Krystyna Oprawa - Miękka Wydawca - Wydawnictwo Naukowe PWN Kod ISBN - 9788301170516 Kod EAN - 9788301170516 Wydanie - 2 Rok wydania - 2012 Język - polski Format - 17.0x24.0cm Ilość stron - 582 Podatek VAT - 5% Premiera - 2012-10-10

Nowoczesne podejście do wymagań współczesnej metrologii! Nowe, zaktualizowane wydanie popularnego poradnika z zakresu metrologii, w którym przedstawiono:·aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar;·podstawowe pojęcia metrologii, procedury zapewnienia jedności miar, procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych i badania aparatury pomiarowej;·zasady tworzenia schematów sprawdzań wzorców i narzędzi pomiarowych;·aspekty niepewności wyników pomiarów i procedur wyznaczania niepewności, ·wstępne opracowanie wyników kalibracji oraz procedury estymacji charakterystyk liniowych i nieliniowych, jedno- i wielowymiarowych przy różnych właściwościach błędów;·badanie metod analitycznych oraz badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania;·aspekty komputeryzacji procedur kalibracji i obsługi laboratorium;·sprawdzanie (walidację) metod badania i wzorcowania;·laboratoria akredytowane oraz zagadnienia prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodności;·przykład księgi jakości laboratorium spełniającego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005.W porównaniu do poprzedniego wydania w wielu rozdziałach wprowadzono zmiany i uzupełnienia. W rozdziale o jednostkach miar, wzorcach pomiarowych i badaniu jednolitości miar uwzględniono postęp prac nad ustanowieniem nowego (kwantowego) układu jednostek miar SI oraz kierunki prac prowadzonych nad realizacją nowych (kwantowych) etalonów. Opisano też komputerowe wspomaganie procedur wzorcowania. Dokonano aktualizacji przepisów prawnych i norm, co było szczególnie istotne przy omawianiu zasad i uwarunkowań badania biegłości laboratorium wzorcującego, które jest obecnie obwarowane nowymi przepisami i jest pod nadzorem organizacji międzynarodowych. Książka jest adresowana zarówno do studentów uniwersytetów (na wydziałach fizyki i chemii), jak i politechnik, oraz do pracowników naukowych i inżynierów zajmujących się budową aparatury pomiarowej oraz jej stosowaniem we wszystkich dziedzinach od mechaniki, elektrotechniki po chemię fizyczną i analityczną....

Nowoczesne podejście do wymagań współczesnej metrologii! Nowe, zaktualizowane wydanie popularnego poradnika z zakresu metrologii, w którym przedstawiono: ·aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar; ·podstawowe pojęcia metrologii, procedury zapewnienia jedności miar, procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych i badania aparatury pomiarowej; ·zasady tworzenia schematów sprawdzań wzorców i narzędzi pomiarowych; ·aspekty niepewności wyników pomiarów i procedur wyznaczania niepewności, ·wstępne opracowanie wyników kalibracji oraz procedury estymacji charakterystyk liniowych i nieliniowych, jedno- i wielowymiarowych przy różnych właściwościach błędów; ·badanie metod analitycznych oraz badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania; ·aspekty komputeryzacji procedur kalibracji i obsługi laboratorium; ·sprawdzanie (walidację) metod badania i wzorcowania; ·laboratoria akredytowane oraz zagadnienia prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodności; ·przykład księgi jakości laboratorium spełniającego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005. W porównaniu do poprzedniego wydania w wielu rozdziałach wprowadzono zmiany i uzupełnienia. W rozdziale o jednostkach miar, wzorcach pomiarowych i badaniu jednolitości miar uwzględniono postęp prac nad ustanowieniem nowego (kwantowego) układu jednostek miar SI oraz kierunki prac prowadzonych nad realizacją nowych (kwantowych) etalonów. Opisano też komputerowe wspomaganie procedur wzorcowania. Dokonano aktualizacji przepisów prawnych i norm, co było szczególnie istotne przy omawianiu zasad i uwarunkowań badania biegłości laboratorium wzorcującego, które jest obecnie obwarowane nowymi przepisami i jest pod nadzorem organizacji międzynarodowych. Książka jest adresowana zarówno do studentów uniwersytetów (na wydziałach fizyki i chemii), jak i politechnik, oraz do pracowników naukowych i inżynierów zajmujących się budową aparatury pomiarowej oraz jej stosowaniem we wszystkich dziedzinach od mechaniki, elektrotechniki po chemię fizyczną i analityczną.